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奧林巴斯帶延遲塊測厚儀探頭
更新時間：2024-04-02
奧林巴斯帶延遲塊測厚儀探頭V201-RM 至V208-RM 超薄工件測厚我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。擁有40多年探頭研制經(jīng)驗的Olympus
多選奧林巴斯帶延遲塊測厚儀探頭的詳細(xì)資料
奧林巴斯帶延遲塊測厚儀探頭V201-RM 至V208-RM 超薄工件測厚
我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。擁有40多年探頭研制經(jīng)驗的OlympusNDT已經(jīng)開發(fā)了用于缺陷探測、焊縫檢測、厚度測量及材料分析等特殊應(yīng)用的各種各樣的定制探頭。
優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場分辨率。• 較高的探頭頻率提高了分辨率。• 直接接觸法可提高測量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 測厚。• 垂直聲束缺陷探測。• 對接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測。
可更換延遲塊探頭
• 每個探頭的配置都帶有一個標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和 一個固定環(huán)。• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
奧林巴斯帶延遲塊測厚儀探頭
選購型號:
| 頻率 | 標(biāo)稱晶片尺寸 | 探頭工件編號 | |
| MHz | 英寸 | 毫米 | |
| 2.25 | 0.25 | 6 | V204-RM |
| 5 | 0.50 | 13 | V206-RM |
| 0.25 | 6 | V201-RM | |
| 10 | 0.25 | 6 | V202-RM |
| 0.125 | 3 | V203-RM | |
| 15 | 0.25 | 6 | V205-RM |
| 20 | 0.125 | 3 | V208-RM |
可更換延遲塊探頭選項
| 標(biāo)準(zhǔn)晶片尺寸 | 標(biāo)稱延遲塊 | 高溫 | 干耦合延遲塊? | 備用固定環(huán) | 帶有彈簧的支架 | |||
| *高175°C(350°F) | *高260°C(500°F) | *高480°C(900°F) | ||||||
| 英寸 | 毫米 | |||||||
| 0.50 | 13 | DLH-2 | DLHT-201 | DLHT-2 | DLHT-2G | DLS-2 | DRR-2 | 2130 |
| 0.25 | 6 | DLH-1 | DLHT-101 | DLHT-1 | DLHT-1G | DLS-1 | DRR-1 | 2127&DRR-1H |
| 0.125 | 3 | DLH-3 | DLHT-301 | DLHT-3 | DLHT-3G | DLS-3 | DRR-3 | 2133&DRR-3H |