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奧林巴斯超聲波探頭 單晶接觸式延遲探頭
更新時(shí)間：2024-04-02
奧林巴斯探傷儀探頭 單晶接觸式延遲探頭GE Inspection Technologies的應(yīng)用程序中心為無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用程序的用戶提供廣泛的服務(wù)。
V220 V221 V222-BA-RM奧林巴斯超聲波探頭 單晶接觸式延遲探頭的詳細(xì)資料
?奧林巴斯探傷儀探頭 單晶接觸式延遲探頭
介紹
GE Inspection Technologies的應(yīng)用程序中心為無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用程序的用戶提供廣泛的服務(wù)。
我們的使命是匯聚來(lái)自多個(gè)行業(yè)和模式的全球知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)，以幫助客戶迅速解決他們的檢查應(yīng)用問題。
憑借出色的業(yè)績(jī)記錄，我們經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師，技術(shù)人員和專家是客戶的重要資產(chǎn)。他們的經(jīng)驗(yàn)豐富，涵蓋了許多NDT模式和許多行業(yè)領(lǐng)域-從射線照相技術(shù)的發(fā)展定制渦流設(shè)計(jì)的解決方案，用于檢查生產(chǎn)車間的航空航天零件用于電力，石油，天然氣和汽車行業(yè)的現(xiàn)場(chǎng)檢查的探頭。
新材料，制造工藝和連接技術(shù)通常需要定制的配件，專為特定應(yīng)用而設(shè)計(jì)。我們提供各種特殊應(yīng)用的傳感器，其中一些顯示在這些頁(yè)面。我們的特殊換能器團(tuán)隊(duì)已準(zhǔn)備就緒，可以快速，有效地解決新的應(yīng)用問題。
探頭選擇規(guī)范與性能
本目錄中掃描分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸式檢驗(yàn)方法
直梁—單個(gè)元素
•具有規(guī)則幾何形狀的零件和相對(duì)光滑的接觸面
•平坦或彎曲的接觸面
•缺陷或與墻面平行的底壁或可檢測(cè)到垂直于表面的光束
•用于厚實(shí)的滲透
欄目
•延遲線類型改善了近地表解析度
•需要耦合劑層，通常是凝膠，油或糊劑
•通常用于手動(dòng)檢查直光束-雙元素（TR）
•發(fā)送和接收元素被串?dāng)_隔離
•缺陷或與墻面平行的底壁或可檢測(cè)到垂直于表面的光束
•適合薄型表面，近表面解析度
•需要耦合劑層，通常是凝膠，油或糊
•通常用于手動(dòng)檢查角鋼
•元件安裝在一體式或可更換的楔子
•使用折射來(lái)傳遞剪切力或縱波在預(yù)定角度
•大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)換能器產(chǎn)生通過模式轉(zhuǎn)換得到的橫波
•用于傾斜零件缺陷，例如焊縫
•提供單元素和雙元素類型
•需要耦合劑層，通常是凝膠，油或糊劑
•有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化測(cè)試
浸入式傳感器
•聲學(xué)匹配水效率
•適用于不規(guī)則零件幾何形狀
•常用于機(jī)械化或自動(dòng)化測(cè)試
•方法，以實(shí)現(xiàn)一致的耦合和可重現(xiàn)的結(jié)果
•大型零件可以使用探頭支架，鼓泡器或水射流
•換能器可專注于改進(jìn)結(jié)果
聚焦浸入式傳感器
•球形焦點(diǎn)形成一個(gè)點(diǎn)或點(diǎn)
•圓柱焦點(diǎn)形成一條線集中優(yōu)勢(shì)球形（點(diǎn)）重點(diǎn)圓柱（線）
重點(diǎn)
提高對(duì)小缺陷的敏感性提高近表面分辨率修正輪廓表面提高信噪比
型號(hào)規(guī)格如下:
| 頻率 | 標(biāo)稱晶片尺寸 | 延遲 | 探頭工件編號(hào) | |
| MHz | 英寸 | 毫米 | 微秒 | |
| 5 | 0.25 | 6 | 7 | V220-BA-RM |
| 10 | 0.25 | 6 | 7 | V221-BA-RM |
| 20 | 0.25 | 6 | 7 | V222-BA-RM |
| 0.25 | 6 | 7 | V222-BB-RM | |
| 0.25 | 6 | 4 | V222-BC-RM | |